نویسنده: آقای جهانبخش مشایخی
انتشارات: مرکز نشر دانشگاهی
توضیحات:

مطابق آنچه در مقدمه آمده است، مهمترین هدف مولف از تهیه کتاب فوق الذکر، کمبود یک کتاب کاربردی برای علاقمندان به حوزه لایه نازک بوده است. از این رو تلاش شده است که با پرهیز از ارائه مطالب غیر کاربردی و غیر ضروری، کتابی مفهومی و کاربردی برای علاقمندان به این حوزه و به طور مخصوص دانشجویان کارشناسی و کارشناسی ارشد فیزیک، مواد و برق و الکترونیک و صنعت گران علاقمند که زمینه فعالیت آنها در حوزه لایه نازک   می باشد، ارائه گردد. به گونه ای که خواننده با مطالعه هر بخش بتواند درک کاملی از لایه نشانی  و آنالیز لایه داشته باشد.

در فصل اول، بررسی سیستم خلأ، نحوه ایجاد خلأ و روش های اندازه گیری خلأ، مورد توجه قرار گرفته است. در فصل دوم با بررسی ساختار لایه نازک تلاش شده است تا شناخت کاملی از مدهای رشد لایه، خواص مکانیکی لایه و ارتباط بین آنها و همچنین ضخامت سنجی لایه، در ذهن خواننده ایجاد شود. در فصل سوم نیز روش های متداول لایه نشانی فیزیکی مانند لایه نشانی تبخیری، کندوپاش، لایه نشانی لیزری و انواع مختلف لایه نشانی شیمیایی، به تفکیک تشریح شده اند.
در فصل چهارم،  فرایند ساخت فیلترهای اپتیکی با استفاده ار فناوری لایه نازک مورد توجه قرار گرفته است که یکی از جذاب ترین و کاربردی ترین محصولات در فن‌آوری لایه نازک به شمار می رود. در فصل پنجم نیز آنالیزهای مهم سطح و لایه نازک مانندTEM  SEM، Ellipsometery،RBS، SIMS، XPS و XRD تشریح شده اند.تلاش شده تا آنالیزهای مورد مطالعه، با نگاهی متفاوت از آنچه در دیگر کتب مشاهده می شود، مورد بررسی قرار گیرند. بدین ترتیب که در ابتدا تکنیک مورد استفاده در این آنالیزها در غالب سه گروه ( بر اساس برهم کنش بین ذره باردار، پرتو ایکس و یا پرتو نور با سطح لایه نازک)، مورد بررسی قرار گرفته و در ادامه، ساختار و عملکرد آنها با توجه به تقسیم بندی آنها، به تفکیک تشریح شده اند...


منبع: http://www.thinfilmscience.com/


در ضمن اگر شما هم کتاب مرتبط با موضوع PVD را می شناسید، جهت معرفی در این سایت، اطلاعات آنرا برای ما (info@hardcoating.ir) ارسال کنید.